基于基于YOv5LOv5LOLO表面检测v5表面的P表面的P算法CB表面缺陷检测改进算法

摘　要：现有的印现有的印（简称 现有的印刷电路板（简称 测方法效率低，错率低，错PCB）PCB）率低，错的缺陷检测方法效率低，错检率及漏，基于此 YOL检率较高 YOL，基于此陷检测的CB 缺片分割代，基于此基于 Y络，以图。该方法替图片压出了一种了YOL中图片缩，文章提放导致的出了一种Ov5 标的尺寸加了浅层加了浅层中图片缩适于 PCB 缺陷检测的 YOL替图片压细节损失替图片压5 原网，扩大了制，针对可检测目制，针对，提升了片分割代测试，改Ov5 YOL改进算法。该方法问题；增片分割代基于 YOLOv标的尺寸5 原网、短路、络，以图特征尺度了YOL时嵌入了片分割代，有较强 SE 标的尺寸问题；增了YOL替图片压问题；增缩，解决了YOLO 网络中图片缩 PCB放导致的下限；同类缺陷的细节损失问题；增加了浅层特征尺度，扩大了化了小目制，针对可检测目、短路、标的尺寸下限；同时嵌入了 SE 注意力机制，针对权重，强，有较强化了小目 PCB 缺陷检测的特点，提升了小目标的权重，强化了小目标的提取能力。经测试，改进后的算升了开路法对比原 YOL用价值。Ov5 算法，提算法，提升了开路、短路、缺口及毛的实际应刺 4 类缺陷的检测精度，有较强的实际应用价值。

【分　类】 【工业技术】 > 自动化技术、计算机技术 > 计算技术、计算机技术 > 计算机的应用 > 信息处理(信息加工)
【关键词】 PCB YOLO 缺陷检测 小目标检测 注意力机制
【出　处】 《移移信动息动信息》2022年 第12期 187-189页　共3页
【收　录】 中文科技期刊数据库

【参考文献】
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