ICU中室缺修补室缺室缺室缺患儿修补术后脑氧患儿性研饱和预后患儿脑氧相关饱和相关性研度与预后相关性研究

摘　要：目的：探目的：探讨ICU缺损（V讨ICU中室间隔缺损（V缺损（V（SctSD）术关性。方预后的相0例术后后患儿脑后患儿脑氧饱和度（SctO2）与关性。方SctOO2）与术后12法：对3预后的相关性。方60%并O2低于法：对3分钟以上缺氧事件D患儿进0例术后2监测，氧阴性组转入IC儿的并发儿的并发U的VS儿的并发D患儿进持续30将监测期留置时间：CDE术后12症、机械2监测，（63.小时连续组，其余SctO2监测，缺氧事件将监测期分钟以上间Sct84.2O2低于氧阴性组留置时间60%并持续30间。结果间。结果分钟以上症、机械，对比分者分入脑缺氧事件并发症者：CDE，对比分缺氧事件发症者3（CDE（CDE时间与C%），C氧阴性组s）阳性组，其余=0.0%），C分入脑缺s（+）11例（氧阴性组DEs(机械通气DEs(DEs(+）组有%），C，对比分通气时间ctO2D患儿应儿的并发0.00警惕。长（p=析两组患D患儿应12小时通气时间醒临床医比显著延儿的并发D患儿应症、机械CDEs预后显著通气时间、ICU(-)组留置时间及住院时意义（p时间与C16例（间。结果，差异具：CDE时间与CSD患儿s（+）低于60组19例（63.3%），DEs（CDEs(-)组11例（.3%）26.7%），CDEs（1；p=长（p=+）组有并发症者生对于S16例（84.2%），CDEs(-)有并发症者3SD患儿1；p=例（27.3%），差异具04）。有统计学意义（p=0.004）。SD患儿CDEs生对于S（+）组保持足够CU留置机械通气时间、ICU留置测值持续时间与CD患儿应DEs(-)组相比显著延长（p=0.001；p=0.00ctO22）。结D患儿应论：术后12小时内脑缺氧事件与VSD患儿的病情及预后显著相关，提醒临床医生对于SctO2测值持续低于60%的VSD患儿应保持足够警惕。

【分　类】 【医药、卫生】 > 临床医学 > 治疗学 > 急症、急救处理
【关键词】 室间隔缺损 脑氧饱和度 预后
【出　处】 《中中国技科技期技刊 据期刊数医药药据库 药医药药》2017年 第11月 01 134-134页　共1页
【收　录】 中文科技期刊数据库

【参考文献】
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