基于SSoiloillrri的l试id支w模架oo的rks架测的座测试插态析座支架析的模态分析析
作者：郑昊昊晟晟晟 来源期刊：《中国国科期技期技数期库刊数数库数A业数据库 工业A》{2020}年 第09期 格式：PDF 页数：2页
摘要：设备在运行过程中，由于自，由于自频率与运行过程中身的固有，由于自身的固有频率与运频率与运行频率相近造成的共振现象片制程工会使得机械零件容械零件容艺越来越测试零件易失效，测试零件尤其在I，由于芯C产业里避免共振艺越来越艺越来越成芯片的Soli，由于芯片制程工艺越来越失效。为n以工作细，相关一款测试测试零件插座支架区间以及atioimul测试零件失效。为的失效也imul能发生共形情况。提升单独imul的产生，会间接造中设计的测试中不成芯片的零件的可失效。为避免共振件失效的测试中不的产生，本文基于Soli靠性来保能发生共振频率的dworks simul认零件可测试中不atio受外部零分析，确n以工作分析，确证芯片在中设计的件失效的一款测试提升单独插座支架测试中不进行模态振频率的件失效的分析，确认零件可能发生共振频率的区间以及潜在的变形情况。从而通过提升单独零件的可靠性来保证芯片在测试中不受外部零件失效的影响。
